СТРАШКИН ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретатель СТРАШКИН ВАЛЕРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b8d748b4b8989face556ba4195365d81.jpg)
Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин. Цель изобретения - повышение точности, расширение диапазона измерений и обеспечение неразрушающих измерений при контроле толщины. Измеритель содержит датчик касания, привод датчика касания, генератор тактовых импульсов, коммутатор сигналов кали...
1763873