PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЗИЯДУЛЛАЕВ АБДУКАХХАР ШАМШИЕВИЧ

Изобретатель ЗИЯДУЛЛАЕВ АБДУКАХХАР ШАМШИЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ кулонометрического измерения толщины металлических покрытий объектов

Способ кулонометрического измерения толщины металлических покрытий объектов

  Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля толщины металлических покрытий объектов с малой площадью поперечного сечения, и может быть использовано при контроле гальванопокрытий на проволочных и ленточных токоподводах. Подлежащую контролю деталь помещают в качестве анода в электролитическую ячейку и произвольный ее участок погружают в электролит дл...

1763874