Проць В.И.
Изобретатель Проць В.И. является автором следующих патентов:
Способ определения ориентации кристаллографических осей
Использование: измерение кристаллографических свойств, параметров кристаллических веществ. Сущность изобретения: на плоскую полированную поверхность кристалла направляют пучок линейно поляризованного когерентного излучения, вращают кристалл вокруг оси, перпендикулярной к его облучаемой поверхности регистрируют интенсивность второй гармоники, по изменению которой судят об углах ориентации...
1771276