Ступак М.Ф.

  Использование: измерение кристаллографических свойств, параметров кристаллических веществ. Сущность изобретения: на плоскую полированную поверхность кристалла направляют пучок линейно поляризованного когерентного излучения, вращают кристалл вокруг оси, перпендикулярной к его облучаемой поверхности регистрируют интенсивность второй гармоники, по изменению которой судят об углах ориентации...