ШИРКОВ АЛЕКСЕЙ КУЗЬМИЧ
Изобретатель ШИРКОВ АЛЕКСЕЙ КУЗЬМИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для низкотемпературных измерений оптических характеристик образцов
Использование: в оптическом производстве - для аттестации характеристик оптических деталей и при проведении исследований оптических свойств образцов в области криогенных температур. Сущность изобретения: устройство содержит вакуумированный корпус с оптическим окном , внутри которого размещены теплообменник , держатель с исследуемым образцом и плоское зеркало, а образец снабжен ус...
1778641