PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШИРКОВ АЛЕКСЕЙ КУЗЬМИЧ

Изобретатель ШИРКОВ АЛЕКСЕЙ КУЗЬМИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для низкотемпературных измерений оптических характеристик образцов

Устройство для низкотемпературных измерений оптических характеристик образцов

  Использование: в оптическом производстве - для аттестации характеристик оптических деталей и при проведении исследований оптических свойств образцов в области криогенных температур. Сущность изобретения: устройство содержит вакуумированный корпус с оптическим окном , внутри которого размещены теплообменник , держатель с исследуемым образцом и плоское зеркало, а образец снабжен ус...

1778641