ЗАНАДВОРОВ ПЕТР НИКОЛАЕВИЧ

  Использование при исследовании качества полупроводниковых и диэлектрических кристаллов Сущность изобретения1 контролируемый кристалл размещают в оптическом канале регистрирующей системы конденсаторного типа, воздействуют на него оптическим излучением с длиной волны в диапазоне бт полосы прозрачности до полосы поглощения и мощностью в диапазоне 30 кВт - 1 МВт, причем длина волны и...