ШЕЛЕХОВ ЕВГЕНИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

  Сущность изобретения: на рентгеновском дифрактометре в области единственной линии HKL регистрируют линии аморфного гало и кристаллической фазы. Определяют интегральную интенсивность линии кристаллической фазы и пиковую интенсивность линии кристаллической фазы и пиковую интенсивность аморфного гало. Рассчитывают коэффициент, учитывающий различные факторы кинематической интенсивнос...