PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШИСТИК ЛЕОНИД НЕХОМИЕВИЧ

Изобретатель ШИСТИК ЛЕОНИД НЕХОМИЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур

Устройство для контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур

  Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может быть использовано в метеорологии и навигации. Устройство содержит лазер с блоком управления , приемопередающую оптическую систему , датчик опорного импульса, оптически сопряженный с лазером, счетчик, генератор счетных импульсов, запускающий счетчик, три схемы сравнения кодов, три регистра памяти, фотоприемное уст...

1785054