ДЕМОЧКО ЮРИЙ АНИКИЕВИЧ

  Изобретение касается контроля качества полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, выполненных по КМОП-технологии. Цель изобретения - повышение достоверности и сокращение продолжительности испытаний разгерметизированных КМОП интегральных схем с алюминиевыми электродами. С момента достижения установившегося режим осуществляют контроль тока потребления испытуемых микросхем...