САМСОНЕНКО НИКОЛАЙ ДЕМИДОВИЧ
Изобретатель САМСОНЕНКО НИКОЛАЙ ДЕМИДОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ анализа структурного совершенства кристаллических материалов
Использование: при анализе кристаллических элементов быстродействующих электронных схем, Сущность изобретения: алмазйую пле.нку ориентируют под углом 35,5° между нормалью к поверхности пленки и направлением магнитного поля, регистрируют спектр ЭПР, определяют параметры спектра ЭПР, с учетом которых судят о плотности дислокаций в образце и о структурном совершенстве. С...
1800339