НИКУЛИН АНДРЕЙ ЮРЬЕВИЧ

  Сущность изобретения: измеряют интенсивность рентгеновского излучения, рассеянного поверхностью кристалла на многокристальном дифрактометре в режиме углового сканирования в -20. Строят зависимость I в2 от в . Глубину рельефа вычисляют по формуле: t А/2 в0 cos OB . где А-длина волны рентгеновского излучения; в0- период зависимости I 02от#, 0 в точный брэгговский угол, 0- угловое о...