PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЦЕПКАНОВ ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

Изобретатель ЦЕПКАНОВ ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения длин материалов методом обкатывания

Устройство для измерения длин материалов методом обкатывания

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения длин материалов. Сущность изобретения: устройство состоит из измерительного ролика, установленного на подвижной траверсе, прикрепленной к корпусу . На траверсе размещен магнитноуправляемый датчик, сигналы от которого поступают на формирователь, связанный с различителем направлений. Выходы послед...

1805280