ХИГЕРЕЙ Эвелица Е. (US)
Изобретатель ХИГЕРЕЙ Эвелица Е. (US) является автором следующих патентов:
Способ и устройство для формирования индикатора показателя качества обрабатываемой детали
Изобретение относится к получению изделий в результате стохастического процесса обработки. Технический результат - прогнозирование показателя качества обрабатываемой детали. Изобретение предусматривает использование, по меньшей мере, одного датчика, который воспринимает значения одного или более параметров, ассоциированных со стохастическим процессом обработки, и вырабатывает, по меньшей...
2220030