PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТЮРИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

Изобретатель ТЮРИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для обнаружения дефектов на поверхности фотошаблонов и полупроводниковых пластин

Устройство для обнаружения дефектов на поверхности фотошаблонов и полупроводниковых пластин

  Использование: в области микроэлектроники и может быть использовано для контроля в процессе, производства интегральных схем. Сущность изобретения: диафрагма устройства снабжена п щелями (, где , L- размер фотоэлемента фотоэлектрического преобразователя в направлении сканирования образца), размер которых в поперечном направлении (где R - минимальный размер обнаруживаемой частицы;...

1806354