ЧЕКМЕЗОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ

  Изобретение относится к электроизмерениям и контролю качества полупроводниковых приборов и интегральных схем. Цель изобретения - повышение эффективности отработки ненадежных ИС. Отбраковку производят в следующей последовательности: сначала отбраковывают ИС по пробивному напряжению при нормируемом токе контроля, затем по пробивному напряжению при максимально допустимом токе и, нак...