ИСМАИЛОВ ДЖАБИР ИБРАГИМ ОГЛЫ
Изобретатель ИСМАИЛОВ ДЖАБИР ИБРАГИМ ОГЛЫ является автором следующих патентов:

Способ электронографического исследования кинетики фазовых переходов в тонких пленках
Сущность изобретения: исследуемый объект нагревают в электронографе и регистрируют одну из линий его дифракционного спектра широко раскрытой щелью. Ширина щели должна превышать ширину линии вместе с ее смещением в процессе нагрева.2 ил. СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (з1)з G 01 N 23/20 ГОСУДАРСТВЕ ОНОЕ ПАТЕНТНОЕ ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН...
1822954