Иванченко И.М.
Изобретатель Иванченко И.М. является автором следующих патентов:

Способ автоматического контроля поверхностных дефектов деталей
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике. Цель - повышение качества контроля за счет отсеивания дефектов в зоне припуска на последующую обработку. Контролируемую деталь фиксируют относительно телекамеры, записывают в памяти строчные координаты локального окна, соответствующего форме контролируемого участка детали, создают телеизображение детали посредством телекамеры, в...
1834545