PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Комоцкий В.А.

Изобретатель Комоцкий В.А. является автором следующих патентов:

Акустооптическое устройство для измерения линейных перемещений

Акустооптическое устройство для измерения линейных перемещений

 Акустооптическое устройство для измерения линейных перемещений, содержащее источник излучения, блок формирования двух оптических каналов, последовательно расположенные пластины, на одну из которых, жестко соединенную с иглой-зондом и установленную с возможностью перемещения в вертикальной плоскости, нанесена дифракционная решетка, а на второй размещен возбудитель поверхностной акустическо...

1149722

Способ определения расходимости когерентного оптического излучения и устройство для его осуществления

Способ определения расходимости когерентного оптического излучения и устройство для его осуществления

 1. Способ определения расходимости когерентного оптического излучения, включающий измерение мощности предварительно промодулированного оптического пучка в фокальной плоскости линзы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процедуры измерения, модуляцию оптического пучка осуществляют путем его последовательной дифракции на двух пространственно разнесенных периодически...

1365872

Способ получения металлического порошка

Способ получения металлического порошка

 1. Способ получения металлического порошка, включающий нагрев исходного металлического материала лазерным излучением до плавления, диспергирование и охлаждение капель расплава, отличающийся тем, что, с целью повышения дисперсности получаемого порошка за счет взрывного испарения металла, исходный материал берут в виде фольги или сыпучего продукта, а нагрев осуществляют при плотности излуче...

1499818

Способ измерения толщины металлической пленки

Способ измерения толщины металлической пленки

 Изобретение относится к области технологии тонких пленок, а точнее к области контроля толщины тонких металлических пленок, нанесенных на подложку из диэлектрика или иного материала, и может быть использовано в микроэлектронике и оптике. Сущность изобретения: в способе измерения толщины металлической пленки, включающем формирование ступенчатой структуры на поверхности пленки, высота которо...

2221989