Панов Евгений Анатольевич (RU)
Изобретатель Панов Евгений Анатольевич (RU) является автором следующих патентов:
Способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем
Изобретение предназначено для использования на выходном и входном контроле качества цифровых КМОП интегральных микросхем и оценки их температурных запасов. Сущность: на входы одного или нескольких логических элементов контролируемой микросхемы подают последовательность высокочастотных переключающих греющих импульсов частотой Fгр, модулированных последовательностью прямоугольных видеоимпульсов с...
2504793Способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем - микропроцессоров и микроконтроллеров
Способ предназначен для использования на выходном и входном контроле качества сверхбольших интегральных схем (СБИС) - микропроцессоров и микроконтроллеров - и оценки их температурных запасов. В контролируемую СБИС, установленную на теплоотводе и подключенную к источнику питания, загружают специальный «разогревающий» тест и программу управления и включают в режим периодического нагрева путем пере...
2521789