PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Елисеев Иван Алексеевич (RU)

Изобретатель Елисеев Иван Алексеевич (RU) является автором следующих патентов:

Оптический способ измерения мгновенного поля толщины прозрачной пленки

Оптический способ измерения мгновенного поля толщины прозрачной пленки

Способ может быть использован для бесконтактных, непрерывных измерений толщин прозрачной пленки. Способ включает направленное воздействие лучей света на пленку, их полное внутреннее отражение на границе раздела сред и последующую обработку отраженного света. Источник света помещают над пленкой или под пленкой, от которого образуются лучи света, направленные под углами - меньшими предельного угла...

2506537