PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Талипов Анвар Айратович (RU)

Изобретатель Талипов Анвар Айратович (RU) является автором следующих патентов:

Способ измерения характеристик резонансных структур и устройство для его осуществления

Способ измерения характеристик резонансных структур и устройство для его осуществления

Изобретение относится к технике резонансных радиотехнических измерений. Способ включает генерацию зондирующего колебания, подачу на вход и прием с выхода резонансной структуры, перестройку частоты зондирующего колебания в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот резонансной структуры, регистрацию изменения его параметров, по которым определяют резонансные частоту, амплитуду и добротнос...

2520537

Способ для измерения характеристик резонансных структур и устройство для его реализации

Способ для измерения характеристик резонансных структур и устройство для его реализации

Техническое решение относится к технике резонансных радиотехнических измерений для вычисления и мониторинга комплексной диэлектрической проницаемости материалов. Сущность: способ для измерения характеристик резонансных структур заключается в том, что генерируют одночастотное зондирующее колебание, преобразуют его в многочастотное, подают его на вход и принимают с выхода резонансной структуры, пе...

2550593