Салащенко Николай Николаевич (RU)
Изобретатель Салащенко Николай Николаевич (RU) является автором следующих патентов:
![Способ получения направленного экстремального ультрафиолетового (эуф) излучения для проекционной литографии высокого разрешения и источник направленного эуф излучения для его реализации Способ получения направленного экстремального ультрафиолетового (эуф) излучения для проекционной литографии высокого разрешения и источник направленного эуф излучения для его реализации](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d24e24efb1c7d404ee21c73fc794914b.jpg)
Способ получения направленного экстремального ультрафиолетового (эуф) излучения для проекционной литографии высокого разрешения и источник направленного эуф излучения для его реализации
Изобретение относится к источникам получения направленного (сформированного) мягкого рентгеновского излучения, или, что то же самое, экстремального ультрафиолетового излучения (ЭУФ) с длиной волны 13,5 нм или 6,7 нм, применяемым в настоящее время или в ближайшей перспективе в проекционной литографии высокого разрешения. Технический результат - повышение эффективности и ресурса работы источников...
2523445![Устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности Устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности](/img/empty.gif)
Устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности
Изобретение относится к использованию мягкого рентгеновского излучения для исследования сверхгладких оптических поверхностей и многослойных элементов, в частности для аттестации оптических элементов дифракционного качества. Устройство содержит установленные на плите трехкоординатный прецизионный стол с размещенными на нем рентгеновской трубкой, излучающей в мягком рентгеновском диапазоне, и ионн...
2524792![Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cfa7e5815d90c30f3f86469db0ca1fe4.jpg)
Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него
Изобретение относится к технической физике, в частности к инструментам для исследования и измерения оптических элементов и систем. Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения содержит источник низкокогерентного света, делителя света, к выходам которого подключены две части оптоволокна, функцию средства для перенаправления света от исследуемого объекта на регистратор выполняет...
2547346![Устройство получения направленного экстремального ультрафиолетового излучения с длиной волны 11,2 нм ±1% для проекционной литографии высокого разрешения Устройство получения направленного экстремального ультрафиолетового излучения с длиной волны 11,2 нм ±1% для проекционной литографии высокого разрешения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8c03213d5388a47bdd6ecf2fb2f08730.jpg)
Устройство получения направленного экстремального ультрафиолетового излучения с длиной волны 11,2 нм ±1% для проекционной литографии высокого разрешения
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается устройства получения направленного экстремального ультрафиолетового излучения с длиной волны 11.2 нм ±1% для проекционной литографии высокого разрешения. Устройство включает в себя гиротрон, генерирующий пучок излучения терагерцевого диапазона, систему ввода излучения в вакуумную камеру, систему квазиоптических зеркал, фокусиру...
2633726