PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РОК Сандрин (FR)

Изобретатель РОК Сандрин (FR) является автором следующих патентов:

Устройство для определения значений по меньшей мере одного параметра частиц

Устройство для определения значений по меньшей мере одного параметра частиц

 Изобретение относится к устройствам, предназначенным для определения значений параметра частиц и может быть использовано для выявления и определения условий, при которых происходит обледенение летательных аппаратов. Устройство содержит измерительный элемент, имеющий измерительную зону, предназначенную для приема подлежащих измерению частиц, средства освещения измерительной зоны посредство...

2226671

Зонд для измерения толщины нароста инея на поверхности

Зонд для измерения толщины нароста инея на поверхности

Изобретение относится к оптическому зонду и к устройству, содержащему множество таких оптических зондов, предназначенному для измерения толщины нароста инея на аэродинамической поверхности летательного аппарата. Техническим результатом заявленного изобретения является расширение функциональных возможностей и повышение точности измерения значительной толщины инея (например, несколько десятков са...

2353898