PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ВАН Цзянпин (SE)

Изобретатель ВАН Цзянпин (SE) является автором следующих патентов:

Способ и компоновка для обнаружения внутренней неисправности в соединенной н-мостом батарее конденсаторов

Способ и компоновка для обнаружения внутренней неисправности в соединенной н-мостом батарее конденсаторов

Использование: в области электротехники. Технический результат - повышение чувствительности и точности обнаружения неисправностей. Способ содержит измерение фазного тока каждой отдельной фазы батареи конденсаторов (100), непрерывное вычисление среднеквадратичного значения, обозначенного как RMS, измеренного фазного тока (110), измерение тока несимметрии (120), непрерывное вычисление RMS-значени...

2553276