Михайлович Анна Павловна (RU)
Изобретатель Михайлович Анна Павловна (RU) является автором следующих патентов:

Способ оценки систематической погрешности методик измерений морфологических характеристик структуры материала тел в конденсированном состоянии, реализуемых посредством компьютерной системы анализа изображений, и стандартный образец для осуществления способа
Изобретение относится к технологии контроля качества измерений, проводимых с использованием компьютерных систем анализа изображений, и может быть использовано для оценки систематической погрешности морфологических характеристик структуры материалов тел в конденсированном состоянии. Способ включает получение изображения поверхности стандартного образца, обработку этого изображения и выделение на...
2565224