PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Шевелев Игорь Евгеньевич (RU)

Изобретатель Шевелев Игорь Евгеньевич (RU) является автором следующих патентов:

Система интроскопического сканирования инспекционно-досмотрового комплекса и способ, осуществляемый в такой системе

Система интроскопического сканирования инспекционно-досмотрового комплекса и способ, осуществляемый в такой системе

Изобретение относится к системе интроскопического сканирования инспекционно-досмотрового комплекса, содержащей линейный ускоритель электронов, генерирующий импульсы с чередованием низкой и высокой энергии с минимальным интервалом t между двумя соседними импульсами, и детекторный узел для сбора данных сканирования, включающий в себя детекторные модули, аналого-цифровые преобразователи (АЦП) и кан...

2566468

Способ мультиэнергетического сканирования объекта в системе интроскопического сканирования

Способ мультиэнергетического сканирования объекта в системе интроскопического сканирования

Использование: для обеспечения возможности разделения и идентификации перекрывающихся на двумерном радиоскопическом изображении материалов. Сущность изобретения заключается в том, что способ мультиэнергетического сканирования объекта в системе интроскопического сканирования содержит этапы, на которых: формируют последовательность из четырех или более импульсов синхронизации с малым межимпульсны...

2591229

Система и способ для обнаружения алмазов в кимберлите и способ предварительного обогащения алмазов с их применением

Система и способ для обнаружения алмазов в кимберлите и способ предварительного обогащения алмазов с их применением

Изобретение относится к технологии обнаружения алмазов в кимберлитовой породе. Система для обнаружения алмазов в кимберлите содержит линейный ускоритель электронов для генерации тормозного излучения дуальной энергии в диапазоне 1-10 МэВ, транспортер для подачи кимберлита в зону облучения, детекторный узел для приема излучения, прошедшего через фрагмент кимберлита, блок обработки данных для формиро...

2623692