СУ Чанмин (US)
Изобретатель СУ Чанмин (US) является автором следующих патентов:
Способ использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. Согласно способу работы сканирующего зондового микроскопа генерируют относительное периодическое перемещение между зондом и образцом, детектируют перемещение зонда, восстанавливают из продетектированного перемещения зонда мгновенную силу между зондом и образцом при взаимодействии зонда и образца, определяют интересующую временн...
2571446