Жарких А.П. (RU)

 Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения потенциально ненадежных полупроводниковых приборов. Сущность способа заключается в том, что измерение интенсивности шумов в эксплуатационном режиме проводится до, после воздействия электростатического разряда (ЭСР) и после термического отжига. Воздействие ЭСР проводится на 20-30 процентов превышающим величину допус...

 Использование: обеспечение качества и надежности партий полупроводниковых приборов за счет определения потенциально нестабильных приборов как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке полупроводниковых приборов одного типа проводят измерение шума до и после воздействия электростатическим разрядом (ЭСР) допустимого по техническим условиям потенциала. За...

 Использование: обеспечение качества и надежности партий транзисторов за счет определения потенциальных ненадежных приборов, как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке транзисторов одного типа проводят измерения шума переходов эмиттер-база и коллектор-база на постоянном токе. По разности значений интенсивности шумов переходов Э-Б и К-Б судят о надежн...

Использование: для определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов. Сущность заключается в том, что на партии полупроводниковых приборов, в которой необходимо определить, а затем отделить потенциально нестабильные приборы, проводят измерение интенсивности шума при нормальной и повышенной температуре, затем воздействуют импульсами ЭСР допустимой по ТУ величины, проводят температурн...

Использование: изобретение относится к области испытаний и контроля полупроводниковых приборов и может быть использовано для их разбраковки по критерию потенциальной надежности как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения: проводится измерение низкочастотного шума полупроводниковых приборов при двух значениях...

Использование: в микроэлектронике, в области испытаний и контроля полупроводниковых приборов. Сущность изобретения: на испытуемой выборке полупроводниковых приборов измеряют шум-фактор на значениях тока до 1 мА, строят ампер-шумовые характеристики для максимальных и минимальных значений, определяют значение тока, при котором разброс ампер-шумовых характеристик наибольший, подсчитывают среднее знач...

Проводят измерение интенсивности шума полупроводникового прибора при нормальных условиях. Затем воздействуют 5-10 импульсами электростатического разряда обоих полярностей. Величину потенциала электростатического разряда выбирают равной допустимой по техническим условиям величине. Производят изотермический отжиг при максимально допустимой по техническим условиям температуре кристалла в течение 4-6...

Изобретение относится к области радиоизмерений. Технический результат изобретения: расширение функциональных возможностей способа при сохранении точности. Сущность: в предлагаемом устройстве блоки задания режимов связаны с блоком управления и с входами ключевых элементов, общий выход которых подключен к одному из входов измерительной схемы, другой вход которой соединен с выходом дополнительного бл...