БЕРАНЖЕ Кевин (FR)

Изобретение может быть использовано для элементного анализа и применимо в области атомной промышленности и аэронавтики. Устройство (1) для отображения и анализа по меньшей мере одного интересующего элемента, содержащегося в твердом образце (10), посредством оптической эмиссионной спектрометрии на основе лазерно-индуцированной плазмы позволяет производить с высоким разрешением отображение элемент...