АНАНД Кришнамурти (IN)
Изобретатель АНАНД Кришнамурти (IN) является автором следующих патентов:
Система и способ определения толщины исследуемого слоя в многослойной структуре
Изобретение относится к измерительной технике. Сущность: система содержит первый электрод, имеющий первую поверхность контакта с образцом, выполненную с возможностью размещения в контакте с первой поверхностью многослойной структуры, второй электрод, имеющий вторую поверхность контакта с образцом, выполненную с возможностью размещения в контакте со второй поверхностью многослойной структуры. Вто...
2589526