ТАН, Юмей (US)
Изобретатель ТАН, Юмей (US) является автором следующих патентов:
Обнаружение местоположений границ пласта на основании измерений на нескольких глубинах размещения инструмента в стволе скважины
Изобретение относится к обнаружению местоположений границ пластов на основании измерений удельного сопротивления на нескольких глубинах размещения инструмента в стволе скважины. Техническим результатом является повышение эффективности обнаружения местоположения границ пластов. Способ включает получение доступа к первому измерению, произведенному на основании эксплуатации передатчика и приемника...
2599648