PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТАН, Юмей (US)

Изобретатель ТАН, Юмей (US) является автором следующих патентов:

Обнаружение местоположений границ пласта на основании измерений на нескольких глубинах размещения инструмента в стволе скважины

Обнаружение местоположений границ пласта на основании измерений на нескольких глубинах размещения инструмента в стволе скважины

Изобретение относится к обнаружению местоположений границ пластов на основании измерений удельного сопротивления на нескольких глубинах размещения инструмента в стволе скважины. Техническим результатом является повышение эффективности обнаружения местоположения границ пластов. Способ включает получение доступа к первому измерению, произведенному на основании эксплуатации передатчика и приемника...

2599648