Колеров О.К. (RU)

 Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа. Способ заключается в том, что исследуемые объекты подвергают холодной прокатке при закритических обжатиях. После рекристаллизационного отжига их рентгенографируют вместе с порошковым эталоном. Величину критической степени пластической деформации определяют по перегибу зависимости логарифма соотношения интенсивностей в интерфере...