Кривенков Роман Юрьевич (RU)

Изобретение относится к оптическому приборостроению. Способ измерения нелинейно-оптических свойств веществ и материалов методом z-сканирования при монохроматической лазерной накачке включает измерение зависимости коэффициента пропускания плоскопараллельного исследуемого образца при его перемещении вдоль оси z сфокусированного лазерного пучка. Исследуемый образец располагают наклонно к падающему лу...