PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СТЮЕМКИ Марк Э. (US)

Изобретатель СТЮЕМКИ Марк Э. (US) является автором следующих патентов:

Расширенный анализ для основанной на изображении оценки износа поликлинового ремня

Расширенный анализ для основанной на изображении оценки износа поликлинового ремня

Изобретение относится к области обработки изображений. Технический результат – повышение скорости и точности анализа изображения тестируемого объекта. Способ обработки изображения содержит этапы, на которых: получают изображение тестируемого объекта, имеющее кадр с выбранной предварительно определенной осью координат и содержащее некоторое число пикселей; идентифицируют указание угла тестируемого...

2636681