Емельянов В.А. (RU)

 Использование: обеспечение качества и надежности партий полупроводниковых приборов за счет определения потенциально нестабильных приборов как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке полупроводниковых приборов одного типа проводят измерение шума до и после воздействия электростатическим разрядом (ЭСР) допустимого по техническим условиям потенциала. За...

 Использование: обеспечение качества и надежности партий транзисторов за счет определения потенциальных ненадежных приборов, как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке транзисторов одного типа проводят измерения шума переходов эмиттер-база и коллектор-база на постоянном токе. По разности значений интенсивности шумов переходов Э-Б и К-Б судят о надежн...

 Изобретение относится к области гидрометаллургии платиновых металлов, в частности к получению концентратов редких платиновых металлов и палладия, и может быть использовано для выделения платиновых металлов из шламов электролитического рафинирования меди и никеля, извлечения осколочных платиноидов из азотнокислых растворов переработки отработанного ядерного топлива, переработки отработанны...

 Способ предназначен для разбраковки партии биполярных транзисторов по стабильности обратных токов (токов утечки) как на этапе производства, так и на этапе их применения. Проводят контроль начального значения обратного тока. Затем проводят испытание транзистора тремя циклами электростатических разрядов. Измеряют значение обратного тока после воздействия электростатического разряда. Проводя...

Изобретение относится к микроэлектронике. Способ включает определение партий с пониженным процентом выхода годных изделий после проведения каждой из контрольных операций. При этом проводят выявление доминирующего вида брака у изделий данной партии, определяют объем дополнительных отбраковочных испытаний и проводят 100-процентные дополнительные отбраковочные испытания. После проведения дополнительн...

Использование: изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности транзисторов за счет определения потенциально нестабильных транзисторов. Изобретение может быть использовано на этапе серийного производства полупроводниковых изделий, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность: способ отбраковки ненадежных маломощных транзисторов, вклю...

Использование: изобретение относится к области испытаний и контроля полупроводниковых приборов и может быть использовано для их разбраковки по критерию потенциальной надежности как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения: проводится измерение низкочастотного шума полупроводниковых приборов при двух значениях...

Использование: в микроэлектронике, в области испытаний и контроля полупроводниковых приборов. Сущность изобретения: на испытуемой выборке полупроводниковых приборов измеряют шум-фактор на значениях тока до 1 мА, строят ампер-шумовые характеристики для максимальных и минимальных значений, определяют значение тока, при котором разброс ампер-шумовых характеристик наибольший, подсчитывают среднее знач...