ЦЮЭ Сяндун (CN)
Изобретатель ЦЮЭ Сяндун (CN) является автором следующих патентов:
Способ контроля конструкции с мдп-структурой в тонкопленочных транзисторах и система для осуществления контроля
Изобретение относится к области техники жидкокристаллических дисплеев, в частности к контролю конструкции с МДП-структурой (структурой металл - диэлектрик - полупроводник) в ТПТ (тонкопленочных транзисторах) и его системе. Раскрыт способ контроля конструкции с МДП-структурой (структурой металл - диэлектрик - полупроводник) в ТПТ (тонкопленочных транзисторах). Техническим результатом является обесп...
2665263