PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЦЮЭ Сяндун (CN)

Изобретатель ЦЮЭ Сяндун (CN) является автором следующих патентов:

Способ контроля конструкции с мдп-структурой в тонкопленочных транзисторах и система для осуществления контроля

Способ контроля конструкции с мдп-структурой в тонкопленочных транзисторах и система для осуществления контроля

Изобретение относится к области техники жидкокристаллических дисплеев, в частности к контролю конструкции с МДП-структурой (структурой металл - диэлектрик - полупроводник) в ТПТ (тонкопленочных транзисторах) и его системе. Раскрыт способ контроля конструкции с МДП-структурой (структурой металл - диэлектрик - полупроводник) в ТПТ (тонкопленочных транзисторах). Техническим результатом является обесп...

2665263