Беляев В.Н. (RU)
Изобретатель Беляев В.Н. (RU) является автором следующих патентов:
Способ отбраковки микросоединений полупроводниковых изделий
Изобретение относится к технологии производства полупроводниковых изделий электронной техники, а именно к способам отбраковки внутренних микросоединений полупроводниковых приборов. Сущность изобретений: в способе отбраковки микросоединений полупроводниковых изделий на микросоединения воздействуют струей сжатого воздуха, при обдуве воздухом полупроводниковое изделие подключено к прибору ав...
2234710