Худолей Андрей Леонидович (BY)

 Изобретение относится к области машиностроения и может быть использовано в разъемных и неразъемных подшипниках скольжения, в том числе двухслойных и многослойных, наружных и внутренних кольцах подшипников качения, зубчатых колесах и др. деталях. Подшипник скольжения имеет различную пористость по длине своего продольного сечения. Наличие большей пористости по краям, по сравнению с централь...

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля и изучения свойств наклонных участков структурных элементов, находящихся на подложке. Сканирование поверхности образца выполняют раздельно для двух участков - поверхности подложки и поверхности структурного элемента, находящегося на подложке, без переустановки образца. Формирование изображения поверхности структу...

Изобретения относятся к приборостроению и машиностроению. Опора содержит опорные пластины, демпфер, пружины в виде нитей и средства для натяжения нитей. Демпфер состоит из постоянных магнитов. Нити жестко закреплены на одной из опорных пластин и упруго связаны с другой опорной пластиной при помощи средства для натяжения нитей. Расстояние между опорными пластинами составляет не менее 0,5 расстояни...

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения вязкости тонких слоев жидкости, для изучения свойств ньютоновских и неньютоновских жидкостей, установления содержания механических примесей в жидкости, измерения сил сопротивления и определения коэффициентов трения жидких и твердых материалов в зависимости от температуры. Техническим результатом заявленного из...

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам сканирования поверхности объекта с помощью сканирующего зондового микроскопа, и может быть использовано для определения изменения рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объекта при пропускании электрического тока. Согласно способу сканирования перед установкой объекта на пьезосканере его поверхность...

Способ может быть использован в сканирующей зондовой микроскопии для определения электрического напряжения, модуля упругости, твердости, вязкости, пластичности пьезоэлектрических материалов, компонентов микро- и наноэлектромеханических систем, а также биомикроэлектромеханических устройств. Наноиндентирование материала выполняют жестким индентором с постоянной скоростью. Регистрируют одновременно...

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано при производстве оптических компонентов для обработки и заострения краев, кромок, граней, фасок, а также для изготовления элементов точной механики, метрологических поверочных пластин, щупов и калибров. Магнитореологическое полирование включает позиционирование оптического элемента с образованием рабочего зазора между его торцовой...