Кидибаев М.М. (RU)

 Использование: в томографии, микротомографии, радиографии, в системах таможенного контроля, при телемеханическом мониторинге промышленных изделий. Сущность: сцинтиллятор на базе кристаллов (Li, Na)F содержит два приповерхностных сцинтилляционных слоя с центрами окраски, выполненные в виде дискретных сцинтилляционных ячеек размерами от 6 мкм и выше и расположенные в параллельных плоскостях...

 Использование: в томографии, системах неразрушающего контроля, для телемеханического мониторинга промышленных технологий. Сущность: способ заключается в облучении кристаллов Lif или NaF через плотно прилегающую к ним радиационно-стойкую маску в виде металлической сетки с размером ячеек от 6-10 мкм и выше циклотронным пучком ионов He+ с энергией 3±2 МэВ, при токе пучка от 100 до 300 нА и ф...

Использование: в системах радиационного мониторинга местностей, таможенного контроля ядерных материалов и др. Сущность: детектор, включающий помимо сцинтиллятора, сместитель спектра и PIN-фотодиод, дополнительно содержит светособирающий световод и корпус-коллиматор, причем сместитель спектра и светособирающий световод выполнены в виде единого блока на основе легированных или чистых кристаллов фтор...

Использование: для получения термолюминофора, предназначенного для низкотемпературной дозиметрии заряженных частиц, в частности электронных пучков и пучков ионов водорода или гелия, включая космические пучки, а также для дозиметрии рентгеновского и гамма-излучения, особенно для случаев низкотемпературной дозиметрии при определении дозозатрат элементов и устройств, изготовленных на основе высокотем...