ИРВИН Дональд (US)

 Устройство для обнаружения поверхностных дефектов (F) в материале (27) с частично отражающей поверхностью (25) включает, по меньшей мере, один источник света (23, 23), расположенный так, чтобы направлять падающий свет на поверхность, по меньшей мере, частично отражающего материала (27), и светоприемник (29), расположенный над поверхностью материала (27). Светоприемник (29) и, по меньшей м...