Нешов Ф.Г. (RU)

 Использование: в томографии, системах неразрушающего контроля, для телемеханического мониторинга промышленных технологий. Сущность: способ заключается в облучении кристаллов Lif или NaF через плотно прилегающую к ним радиационно-стойкую маску в виде металлической сетки с размером ячеек от 6-10 мкм и выше циклотронным пучком ионов He+ с энергией 3±2 МэВ, при токе пучка от 100 до 300 нА и ф...