PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Толмачев И.И. (RU)

Изобретатель Толмачев И.И. (RU) является автором следующих патентов:

Контрольный образец для магнитной дефектоскопии

Контрольный образец для магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Технический результат: расширение возможностей использования образца за счет одновременного определения чувствительности магнитных дефектоскопов к поверхностным и подповерхностным дефектам. Сущность: Образец содержит пластину с отверстием и установленной в нем втулкой из того же материала. Сопряжение между пластиной и втулкой образует поверх...

2245541