Штехер О.В. (RU)
Изобретатель Штехер О.В. (RU) является автором следующих патентов:
Способ ультразвукового контроля качества материала
Изобретение относится к области неразрушающих испытаний материалов и изделий ультразвуковыми методами и может быть использовано для обнаружения дефектов в сварных швах и в основном материале, в том числе трещин, раковин, непроваров, несплавлений, шлаковых включений и т.д. Для обнаружения сигнала, отраженного от дефекта, и оценки его местоположения, анализ информационных свойств сигнала на выходе п...
2246724