Каберов С.Р. (RU)

Способ может быть использован для контроля состава и свойств материалов в процессе их производства и в эксплуатации. С помощью направленной антенны возбуждают Е-волну, падающую на диэлектрическую пластину. По минимуму поля отраженной волны определяют угол Брюстера падающей волны и рассчитывают величину диэлектрической проницаемости. Измеряют мощности падающей и отраженной волн, определяют величину...

Изобретение относится к измерениям диэлектрической и магнитной проницаемостей, а также толщины спиновых покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств жидких и твердых сред в химической и других отраслях промышленности. Способ заключается в создании электромагнитного поля в объеме контролируемого диэлектрического материала на электропроводящей подложке, по...

Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий на металле при разработке неотражающих и поглощающих покрытий, а также в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности. В СВЧ способ...