Давыдов Н.Н. (RU)

Изобретение относится к области испытания и контроля цифровых полупроводниковых интегральных микросхем (ИС) высокого быстродействия и может быть использовано в цеховых условиях сборочного производства электронных средств при входном контроле показателей радиационной стойкости ИС, содержащих запоминающие устройства (ЗУ). Технический результат изобретения: повышение достоверности разбраковки партии...