Карев Д.В. (RU)
Изобретатель Карев Д.В. (RU) является автором следующих патентов:
Свч способ измерения магнитодиэлектрических параметров и толщины спиновых покрытий на металле
Изобретение относится к измерениям диэлектрической и магнитной проницаемостей, а также толщины спиновых покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств жидких и твердых сред в химической и других отраслях промышленности. Способ заключается в создании электромагнитного поля в объеме контролируемого диэлектрического материала на электропроводящей подложке, по...
2251073Система динамического моделирования процессов управления экономикой
Изобретение относится к области моделирования экономических процессов и может быть использовано для реализации имитационных моделей различных звеньев экономики в виде дискретной системы, в которой рыночный механизм представлен посредством взаимодействия параметров, задаваемых в автоматизированном режиме в виде детерминированных или стохастических величин, и управления через контуры обратной связи....
2262739