Шеремет А.В. (RU)

Использование: для разбраковки полупроводниковых приборов по радиационной стойкости. Сущность заключается в том, что критериальный параметр полупроводниковых приборов для “обучающей” выборки и классифицируемой партии измеряют до и после облучения малой дозой ионизирующего излучения, не приводящей к существенному структурному дефектообразованию, а определение стойкости приборов осуществляют на осно...