Кочаров Э.А. (RU)

Изобретение относится к области неразрушающего контроля (НК) поверхностных слоев токопроводящих материалов (ПСТМ) изделий в процессе их производства и эксплуатации. Технический результат: повышение достоверности выявления дефектов в ПСТМ заданной толщины благодаря использованию в качестве дефектоскопического параметра поверхностного электросопротивления (Rn), измеренного на постоянной базе (l), по...

Изобретение относится к измерительной технике. Способ включает введение в контролируемый объект контрастирующего вещества, облучение объекта ионизирующим излучением, регистрацию пространственного распределения вторичного излучения, возбуждаемого при облучении объекта ионизирующим излучением, при этом в качестве контрастирующего вещества используют насыщенный водный раствор хлорида цинка или бромид...