Соловьев В.С. (RU)

Изобретение относится к измерительной технике. Способ заключается в ориентации жидких кристаллов, расположенных между двумя подложками. На поверхности подложек формируют дифракционные решетки с частотой линий свыше 500 л/мм и высотой микрорельефа от 0,1 до 0,4 мкм, расположенные с зазором 10-50 мкм и произвольным углом. Жидкие кристаллы ориентируют вдоль линий решеток. Технический результат - повы...