Гетман Ю.В. (RU)

Изобретение относится к области неразрушающего контроля несплошностей, неоднородностей и других дефектов материала изделия или группы изделий. Способ заключается в том, что определяют критические размеры χкр дефектов в режиме эксплуатации и допустимые в эксплуатации размеры [χ]д.э. дефектов. Результаты контроля представляют в виде гистограммы в координатах (Nобн,χ), где Nоб...